телефон: +86-10-89207378
Fax: +86-10-89207378
мобильный: +86-13811339497 same ID for WeChat and WhatsApp
E-mail: info@dtec-ndt.com
Skype: stillsuccess1
|
- Продукты
- Особенности
- Параметры
- Упаковка
Принцип измерения
Магнитный метод (Fe): измерение толщины немагнитных покрытий на стальных, чугунных и других ферромагнитных металлических субstrates, например, окраска, разновидности антикоррозионного покрытия, распыление порошка, пластик, резина, синтетический материал, фосфатное покрытие, хром, цинк, алюминий, олово и кадмий и т.д.
Метод измерения силы тока Eddy (NFe): измерение толщины непроводящих покрытий на медь, алюминий, нержавеющую сталь и другие неферромагнитные субstrates, например, окраска, разновидности антикоррозионного покрытия, распыление порошка, пластик, резина, синтетический материал, оксидные пленки и фосфатные пленки и т.д.
Сфера применения
1. С помощью рудного зонда он используется для измерения немагнитных покрытий на магнитных металлических субстратах.
Общие магнитные металлические субстраты:
Сталь, черные сплавы, кобальт, никель и т.д.
Общие немагнитные покрытия:
Нанесение покрытий (масляная краска, покраска, распыление порошка), пластмассовая пленка, резиновый слой, покрытие, устойчивое к эрозии, синтетический слой материала, хром, медь, свинец, алюминий, олово, кадмий, цинковое покрытие, эмаль и т.д..
2. С помощью цветного зонда он используется для измерения непроводящих покрытий на немагнитных субстратах.
Общие непроводящие покрытия:
Нанесение покрытий (масляная краска, покраска, распыление порошка), пластмассовая пленка, резиновый слой, покрытие, устойчивое к эрозии, синтетический слой материала, хром, медный слой,
Свинцовый слой, алюминиевый слой, оловянный слой, кадмиевый слой, цинковое покрытие, эмаль и т.д.
Обычные немагнитные металлические субстраты:
Прочный металлический корпус, прочный и стабильный в использовании;
Поставляется стандартное программное обеспечение data pro;
Два режима измерения: продолжение/однократный;
Два режима работы: прямой (DITECT) и пакетный (APPL);
5 способов статистики: средние значения/max.значения /Min. Значения/испытательные числа (No.)/ стандартные отклонения (S.Dev);
Два режима калибровки измерений;
С подсветкой дисплея;
640 измеренных значений могут храниться в памяти;
Низкая индикация батареи;
|
Probe available
|
F400
|
F1
|
F1/90°
|
F10
|
F3
|
N400
|
N1
|
N3
|
|||||||||
|
Measuring range(um) |
0-400
|
0-1250
|
0-10000
|
0-3000
|
0-400
|
0-1250
|
0-3000
|
||||||||||
|
Accuracy
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
|
Accuracy
|
One-point calibration (µm) |
±(3%H+1)
|
±(3%H+10)
|
±(3%H+5)
|
±(3%H+0.7)
|
±(3%H+10)
|
±(3%H+5)
|
||||||||||
|
Two-point calibration (µm) |
±[(1-3)H%+0.7]
|
±[(1-3)H%+1]
|
±(3%H+10)
|
±[(1-3)%H+1.5]
|
±[(1-3%H+0.7)
|
±(3%H+1.5)
|
±(3%H+5)
|
||||||||||
|
Minimum resolution(um)
|
0.1
|
0.1
|
10
|
1
|
0.1
|
0.1
|
0.5
|
||||||||||
|
Measuring conditions |
Min curvature of the min area (mm) |
Convex
|
1
|
5
|
flat
|
10
|
3
|
Convex
|
1.5
|
3
|
3
|
||||||
|
Diameter of the min area (mm) |
φ3
|
φ7
|
φ20
|
φ40
|
φ5
|
F4
|
F5
|
F5
|
|||||||||
|
Critical thickness of substrate (mm) |
0.2
|
0.5
|
1
|
2
|
0.3
|
0.3
|
0.3
|
0.3
|
|||||||||
|
Operation language |
English/Russian/Spanish
|
φ3
|
φ7
|
F20
|
φ40
|
φ5
|
|||||||||||
|
Standards
|
DIN,ISO,ASTM,BS
|
0.2
|
0.5
|
1
|
2
|
0.3
|
|||||||||||
|
Calibration
|
Zero and foil calibration |
||||||||||||||||
|
Interface
|
USB
|
||||||||||||||||
|
Statistic
|
Number of measurement, mean, standard deviation, maximum and minimum |
||||||||||||||||
|
Data memory
|
640 readings
|
||||||||||||||||
|
Limits
|
Adjustable with alarm |
||||||||||||||||
|
Power supply
|
NiMH rechargeable battery |
||||||||||||||||
|
Dimensions(mm)
|
230×86×47
|
||||||||||||||||
|
Operating environment |
Temperature:0~40C
|
||||||||||||||||
|
Humidity:20%~90%
|
|||||||||||||||||
|
No strong magnetic field |
|||||||||||||||||
Optional Probes and Application Guide
|
Probe model |
F400
|
F1
|
F1/90º |
F10
|
F3
|
||
|
Operating principle |
Magnetic induction |
||||||
|
Measuring range (µm) |
0-400
|
0-1250
|
0-10000
|
0～3000
|
|||
|
Low range resolution (µm) |
0.1
|
0.1
|
10
|
1
|
|||
|
Accuracy
|
One-point calibration (µm) |
±(3%H+1)
|
±(3%H+10)
|
±(3%H+5)
|
|||
|
Two-point calibration (µm) |
±[(1~3)H%+0.7]
|
±[(1~3)H%+1]
|
±((1～3)%H+5)
|
±[(1~3)%H+1.5]
|
|||
|
Measuring conditions |
Min curvature of the min area (mm) |
Convex
|
1
|
5
|
Flatten
|
10
|
3
|
|
Diameter of the min area (mm) |
φ3
|
φ7
|
F20
|
φ40
|
φ5
|
||
|
Critical thickness of substrate (mm) |
0.2
|
0.5
|
1
|
2
|
0.3
|
||
|
Probe model |
N400 |
N1
|
N3
|
||
|
Operating principle |
Eddy current
|
||||
|
Measuring range (µm) |
0～400 |
0～1250
|
0～3000
|
||
|
Low range resolution (µm) |
0.1
|
0.1
|
0.5
|
||
| Accuracy |
One-point calibration (µm) |
±(3%H+0.7)
|
±(3%H+1.5)
|
±(3%H+5)
|
|
|
Two-point calibration (µm) |
±[(1～3%H+0.7)
|
±[(1～3)%H+1.5]
|
±((1～3)%H+5)
|
||
|
Measuring conditions |
Min curvature of the min area (mm)
|
Convex
|
1.5
|
3
|
3
|
|
Diameter of the min area (mm) |
F4
|
F5
|
F5
|
||
|
Critical thickness of substrate (mm) |
0.3
|
0.3
|
0.3
|
||
Reference Table for Probe selection
|
Substrate Coatings
|
Non-magnetism coatings (Organic materials) |
Non-magnetism coatings(nonferrous metals) |
|||
|
Thickness of coatings is more than 100 |
|||||
|
Steel,iron and other magnetism metal |
Diameter of tesitng area is more than 30mm |
F1 probe:0~1250 µm F400 probe:0~400µm |
F1 probe:0~1250 µm F10 probe:0~10µm
|
F400probe:0~400 µm F1probe:0~1250µm
|
F1 probe:0~1250
F10µm probe:0~10µm |
|
Diameter of testing are is less than 30mm |
F400 probe:0~400µm |
F1 probe:0~1250 µm F400 probe:0~400µm |
F400probe:0~400µm
|
F400 probe:0~400
F1µm probe:0~1250µm |
|
|
Copper,Brass,Aluminum,Zinc,Tin and other metallic |
Diameter of testing area is more than 5mm |
N1 probe:0~1250µm
|
N1 probe:0~40µm
(For chromeplate on copper) |
||
|
ITEMS
|
QTY.
|
|
Main unit |
1
|
|
Probe(F1/N1)
|
1
|
|
Substrate
|
5
|
|
Calibration foil |
1
|
|
Instruction manual |
1
|
|
Communication cable |
1
|
|
Dataview software |
1
|
Chinese
Deutsch
Espanol
Francais
Italiano
Portugues
Japanese
Korean
Arabic
Russian